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紫外荧光硫测定基本原理

发布时间: 2025-11-17  点击次数: 39次

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紫外荧光硫测定基本原理:

当样品被引入高温裂解炉后,经氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫(SO2),反应气由载气携带经膜式干燥器脱水后,进入反应室。在反应室中,二氧化硫受到特定波长的紫外光照射后,转化为激发态的二氧化硫(S02*),当S02*跃迁到基态时发射出光子,光电子信号由光电倍增管接收,再经放大器放大,计算机数据处理,即可以转换为与光强度成正比的电信号,整个反应过程可以表示如下:

R-S+O2            SO2+SO3 + CO2+H2O

SO2+hγ            SO2*+O2

SO2*                SO2 +hγ*

在一定条件下,反应中产生的荧光强度与二氧化硫的生成量成正比,二氧化硫的量又与样品中的总硫含量成正比,故可以通过测定荧光强度来测定样品中的总硫含量。分析样品前先用与样品相接近的标样,制作标样校正曲线,在相同条件下再分析样品,程序自动依据标样校正曲线计算出样品的硫含量。


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